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HMI eP5

ASML Holding Ltd,.
最終更新日: 2022年11月28日

電子ビーム式欠陥検査装置のハイエンドモデル

・電子ビーム式欠陥検査装置におけるハイエンドモデル。
・画素サイズは1nm
・検出できる欠陥サイズは5nm
・CDサイズ0.1nmから計測可能
・R&DとFabで同じように使用することが可能
・CD計測と高解像度の欠陥検出を1つのシステムに組み合わせた。
・パターニング欠陥と電気的欠陥の双方を検出可能

基本情報

検出方式:電子ビーム方式
プロセスノード:先端プロセス検査に対応可能

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取扱企業

ASML Holding Ltd,.

業種:産業用機械 De Run 6501 5504 DR, Veldhoven The Netherlands 

EUVリソグラフィシステムの唯一の供給メーカ

EUVリソグラフィシステムを10nm以下の最先端プロセスラインに提供。ArF液浸でも大きな実績を持つ。AMAT 、Lam Research、東京エレクトロンと製造装置企業の売上高トップを争っている。

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