FIB-SEM装置Helios5 DualBeamを導入しました
2023/03/07 セイコーフューチャークリエーション 株式会社
最新型集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）サーモフィッシャーサイエンティフィック製Thermo Scientiffic DualBeam装置Helios 5 CXを導入しました走査型電子顕微鏡の高分解能イメージングおよび集束イオンビームのミリング機能を兼ね備えており、高品質な表面下解析と3D解析が可能です。
元素分析装置(EDS)も付属しているため検出元素の3D解析も行えます。
本装置について詳しく知りたいとき、分析および加工の依頼やご相談などがあればお気軽にお問い合わせください。
●メール:sfc-tr1@seiko-sfc.co.jp
●電話番号:047-391-2298
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取扱企業
セイコーフューチャークリエーション 株式会社
業種：試験・分析・測定 所在地：千葉県 松戸市高塚新田 563
セイコーフューチャークリエーション株式会社は受託分析、研究開発、生産技術、FAシステムを中核とした事業を行っています。お客様の課題解決に向けた各種サービスを提供します。
受託分析サービスに関しては時計やICを主とした豊富な分析経験から、特に微小な部品が得意分野です。
集束イオンビーム装置（FIB）を使った微細加工、走査型プローブ顕微鏡（AFM）他による微小部形態観察、示差走査熱量計（DSC）による材料性質の分析などナノレベルの微細加工技術と分析・解析技術でお客様の課題解決に取り組みます。
※セイコーフューチャークリエーション株式会社は2022年7月1日にセイコーアイ・テクノリサーチ株式会社から社名を変更いたしました。
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