半導体用語集について

半導体分野（デバイス・プロセス・技術・装置・材料）の用語を調べたいときに便利な半導体用語集です。

新着半導体用語

光散乱法

英語表記：light scattering method

詳細

中性子照射放射化分析

英語表記：neutron bombardment radioactive analysis

詳細

表面粗さ

英語表記：surface nucro-roughness

詳細

酸素析出物

英語表記：oxygen precipitate

詳細

魔鏡トポグラフィ

英語表記：magic mirror topography

詳細

μ－PCD法

英語表記：μ－Photo Conductive Decay method

詳細

表面光起電位（SPV）法

英語表記：Surface Photo Voltage method

詳細

環境耐性

英語表記：environmental stability

詳細

基板依存性

英語表記：substrate poisoning

詳細

残留溶媒量

英語表記：remaining solvent

詳細

よく見られている半導体用語（2026/03/01 ～ 2026/03/07）

ヒロック

英語表記：hilloCk

詳細

パッシベーション

英語表記：passivation

詳細

SC1

英語表記：Standard Clean 1

詳細

TEOS

英語表記：tetra ethoxy silane

詳細

面間均一性

英語表記：wafer to wafer non-uniformity

詳細

inｰsitu

英語表記：in-situ

詳細

コロイダルシリカ

英語表記：colloidal silica

詳細

OSF

英語表記：oxidation induced stacking fault

詳細

TEG

英語表記：test elementary group

詳細

パーティクル

英語表記：particle

詳細