め の半導体用語

めん棒

英語表記:swabs

メインフレーム プラットフォーム

英語表記:main frame plat form

メカニカルクランプ機構

英語表記:mechanical clamp

メカニカルスキャン

英語表記:mechanical scan

メカニカルチャック

英語表記:mechanical check

メカノケミカルポリシング

英語表記:mechano chemical poliching

メカノケミカル現象

英語表記:mechano-chemistry

メガソニック洗浄

英語表記:megasonic cleaning

メガソニック洗浄装置 メガヘルツ超音波洗浄装置

英語表記:megasonic cleaning equipment

メガヘルツ超音波洗 浄装置 メガソニックスプレー洗浄装置

英語表記:mega hertz ultrasonic cleaning equipment megasonic spray cleaning equipment

メタクリル酸系レジスト

英語表記:methacrylate based resist

メタライゼーション

英語表記:metallization

メタライゼーション技術

英語表記:metallization technology

メタルCVD

英語表記:metal Chemical Vapor Deposi tion

メタル・ゲート

英語表記:Metal Gate

メタルコア基板

英語表記:metal core substrate

メタル研削といし

英語表記:metal grinding wheel

メディアン寿命

英語表記:median life

メモリ

英語表記:Memory

メモリアルテストパターン

英語表記:memory test pattern

メモリテスタ

英語表記:memory test system

メモリテストシステム メモリテスタ

英語表記:memory test system memory tester

メモリモジュール

英語表記:memory module

メルトレベル制御システム

英語表記:automatic melt level control system

メンブレンプロービングカード

英語表記:membrane probing card

メンブレンプローブカード

英語表記:membrane probe card

面圧逃げ

英語表記:surface pressure recess

面圧力分布測定

英語表記:surface pressure distribution measurement

面間均一性

英語表記:wafer to wafer non-uniformity

面欠陥

英語表記:plane defect

面取り

英語表記:bevel

面積欠陥試験

英語表記:area defect test

面積密度法

英語表記:pattern area density map method

面粗さ

英語表記:surface roughness

面内均一性

英語表記:within wafer non-uniformity

面内均一性 wiw

英語表記:within wafer

面湾曲

英語表記:curvature

目詰まり

英語表記:clogging

目抜け

英語表記:separate feeling