半導体用語集
面積欠陥試験
英語表記：area defect test
数画素にもわたり水平及び垂直方向に連続した画素欠陥を試験すること。画面上では不定形の面積として確認でき大きさや形、不良原因により、しみ、むらなどがある。
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