半導体用語集
メモリテストシステム メモリテスタ
英語表記：memory test system memory tester
DRAMやSRAMなど、メモリデバイスをテストすることに特化した自動検査装置。特徴として、「アルゴリズミックパターン発生器」、「アドレススクランブル機能」といった機器や機能を持つ。また、テストヘッド当たりの同時測定数が多い。
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