グローバルネット株式会社の製品一覧

Si 系ナノ薄膜の微細レーザー加工
グローバルネット株式会社

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東北大、上杉 祐貴

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多端子C–V 法を用いたAlSiO/AlN/p 型GaN-MOSFET の禁制帯中準位の評価
グローバルネット株式会社

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豊田中研、成田 哲生

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フリーホイールダイオードを内蔵したソース接続分極超接合トランジスタの飽和電流増加構造の検討
グローバルネット株式会社

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名大、小久保 瑛斗

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AlGaN/GaN HEMT 動作下におけるナノ秒応答格子変形の支配因子の解析
グローバルネット株式会社

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阪大、山口将矢 酒井 朗 ら

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印刷とパルスレーザーアニールによるGe 基板上へのGeSn 薄膜成長
グローバルネット株式会社

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名大、佐藤 剛志

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多結晶Ge 系IV 族半導体薄膜の電気的特性制御
グローバルネット株式会社

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筑波大、野沢 公暉

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Si 薄膜のレーザ結晶化における線状Agglomeration (IV)
グローバルネット株式会社

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Sasaki Consulting、佐々木 伸夫

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EID AlGaN/GaN MOS-HEMT のゲート電極直下の電子状態解析
グローバルネット株式会社

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三菱電機、南條 拓真

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酸素イオン注入n 型GaN で観測される実効ドナー密度変動と長い捕獲時定数を持つトラップの関係性
グローバルネット株式会社

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名大、林 慶祐 堀田 昌宏(本件に関わる問合せ先)

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貫通転位密度の異なる自立GaN 基板上にN/Mg イオン注入により作製したp-n 接合ダイオードの電気特性
グローバルネット株式会社

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名大、伊藤 佑太

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