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CF4/H2プラズマによるエピタキシャル成長したSi0.7Ge0.3/Si/Si0.7Ge0.3積層膜からのSi ナノシートの形成

グローバルネット株式会社
最終更新日: 2025年08月19日

名大院工、尾崎 孝太朗

GAA
ナノシート

基本情報

 GAA-FETsのSiナノシート形成には、SiGe層の選択エッチングが重要であり、本研究ではCF4/H2プラズマを用いた真空一貫ドライエッチングを実施した。Si0.7Ge0.3/Si/Si0.7Ge0.3積層膜を用い、H2希釈率を制御しながらプラズマを照射。結果、H2希釈率10%ではエッチングレートが低下する一方、5%ではSiGe層の選択エッチングが明瞭に進行した。Siナノシートの形成後、表面のRMSラフネスは~0.41nmと比較的平坦であった。これらの結果より、CF4/H2プラズマを用いたドライエッチングがSiナノシート形成に有効であることが示された。

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1994年にCMPプラナリゼーション委員会の事務局として活動する機会を経て、会員の皆様にCMP向け層間絶縁膜用テストウエハの提供を始めたことがきっかけとなり、テストウエハの試作・加工ファンドリビジネスに参入、事業化を致しました。

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