その他の製品一覧

半導体の設計、エンジニアリングを支援するためのツール

CG6300

株式会社日立ハイテク

高分解能FEB測長装置(CD-SEM) CG6300 は、電子光学系を一新することにより分解能を高め、測長再現性および画質の向上を図りました。

詳細を確認する

CG5000

株式会社日立ハイテク

1Xnm世代開発及び22nm世代量産プロセス対応測長SEM

詳細を確認する

CV5000

株式会社日立ハイテク

最先端 デバイスパターンの深穴・溝底の回路線幅計測と、実デバイスパターン上でのオーバーレイ計測を可能とする高加速CD-SEM

詳細を確認する

CS4800

株式会社日立ハイテク

4、6、8インチのウェーハサイズに対応した測長SEM

詳細を確認する

まだ製品情報が登録されていません。
もしあなたが、製品登録をご検討の場合は、会員登録後、出展申請を行ってください。