半導体製造装置・試験/検査装置・関連部品の製品一覧
半導体の製造・試験・検査のプロセスを処理する装置、および装置で使用される部品、ユニット、モジュール
9000シリーズ
株式会社日立ハイテク
次世代デバイスプロセスに対応するため、コンダクターエッチング装置 9000シリーズでは、インターフェースを統一し、高精度にモジュール化した…
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M-8000シリーズ
株式会社日立ハイテク
コンダクターエッチング装置 M-8000シリーズは、32nm世代以降のハードマスク、シリコン加工に対応したエッチング装置です。
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CG6300
株式会社日立ハイテク
高分解能FEB測長装置(CD-SEM) CG6300 は、電子光学系を一新することにより分解能を高め、測長再現性および画質の向上を図りました。
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CV5000
株式会社日立ハイテク
最先端 デバイスパターンの深穴・溝底の回路線幅計測と、実デバイスパターン上でのオーバーレイ計測を可能とする高加速CD-SEM
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「半導体製造装置・試験/検査装置・関連部品」の関連企業一覧
グローバルネット株式会社(GNC)は出版やセミナーを通して、半導体やフラットパネルディスプレイの情報をタイムリーに提供することを目的に1990…
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関連企業一覧