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CG6300

株式会社日立ハイテク
最終更新日: 2021年07月07日

高分解能FEB測長装置(CD-SEM) CG6300 は、電子光学系を一新することにより分解能を高め、測長再現性および画質の向上を図りました。

 電子顕微鏡カラムは、材料から検出される二次電子または後方散乱電子を、計測対象によって選択可能とすることで、BEOL工程*1のVia-in-trench*2や3D-NAND、DRAMにおける深い溝や穴底の寸法計測を実現しました。
 さらに電子ビームの走査速度を従来比2倍とすることでウェーハ表面での帯電影響を低減し、より高分解能画像の取得と高コントラストによるエッジ検出が可能となりました。
また新設計ステージにより、時間当たりのウェーハ処理枚数について従来比20%以上の高速化を図ることで生産性を高め、ユーザーのCost of Ownership*3を低減させます。加えて、デバイス量産化に対応するため、装置間差を最小に抑え、長期間安定した高い稼働率を実現します。
・7nm世代デバイスの高精度計測を可能とした高分解能
・深溝・穴寸法計測や材質コントラストの視認性向上
・二次電子、後方散乱電子信号の選択性能強化による高コントラスト画像
・高速スキャンをはじめとした多種なスキャン方式による帯電のないクリアな画像
・新設計高速ステージ搭載の搬送システム

基本情報

ウェーハサイズ Φ300mm(SEMI規格Vノッチウェーハ)
オートローダー 3 FOUP(対応ランダムアクセス)
電源 単相AC200V、208V、230V、12kVA(50/60Hz)

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取扱企業

株式会社日立ハイテク

業種:繊維  所在地:東京都 港区虎ノ門虎ノ門ヒルズビジネスタワー9階 1-17-1 虎ノ門ヒルズビジネスタワー9階

「見る・測る・分析する」技術で産業界に貢献

同社は「見る・測る・分析する」というコア技術をその時々の最先端分野の課題を解決できるレベルにまで引き上げ、半導体産業に貢献してきた。現在は独自のプラズマ技術を応用したエッチング装置、微細パターンの検査に利用されるEB測長装置で世界的な実績を残している。

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