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CV5000

株式会社日立ハイテク
最終更新日: 2021年07月07日

最先端 デバイスパターンの深穴・溝底の回路線幅計測と、実デバイスパターン上でのオーバーレイ計測を可能とする高加速CD-SEM

①深穴・溝底の回路線幅計測・レビュー
 高加速対応電子光学系の新規開発、および深い穴・溝底から発生する二次電子(SE*1)や後方散乱電子(BSE)を角度・エネルギー別に弁別検出が可能な信号検出器の採用により、高アスペクトパターンの回路線幅計測を実現
②デバイスパターンのオーバーレイ計測
 電子線によるインチップ領域でのオーバーレイ計測を実現
最適加速電圧を選択することで、異層間(フォトレジスト層及びその下層など)のオーバーレイ計測が可能
③既存CGシリーズと共通のプラットフォーム使用
 日立ハイテク独自の実績ある搬送系、制御系プラットフォームの採用により、高い安定稼働性と低CoOを提供

基本情報

対応ウェーハサイズ Φ300mm
    (SEMI規格Vノッチウェーハ)
電子線加速電圧 最大30kV
計測機能     オーバーレイ計測付き
オートローダー 3 FOUP(対応ランダムアクセス)
電源     単相AC200V、208V、230V、12kVA(50/60Hz)

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取扱企業

株式会社日立ハイテク

業種:繊維  所在地:東京都 港区虎ノ門虎ノ門ヒルズビジネスタワー9階 1-17-1 虎ノ門ヒルズビジネスタワー9階

「見る・測る・分析する」技術で産業界に貢献

同社は「見る・測る・分析する」というコア技術をその時々の最先端分野の課題を解決できるレベルにまで引き上げ、半導体産業に貢献してきた。現在は独自のプラズマ技術を応用したエッチング装置、微細パターンの検査に利用されるEB測長装置で世界的な実績を残している。

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