半導体/MEMS/ディスプレイのWEBEXHIBITION（WEB展示会）による製品・サービスのマッチングサービス SEMI-NET（セミネット）

［HPLC］高速液体クロマトグラフ法

財団法人材料科学技術振興財団

液体中の成分を固定相と移動相の相互作用の差を利用し分離・検出する手法です。

［FT-IR］フーリエ変換赤外分光法

財団法人材料科学技術振興財団

分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。

［XRD］X線回折法

財団法人材料科学技術振興財団

回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法

財団法人材料科学技術振興財団

電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。

［Slice&View］三次元SEM観察法

財団法人材料科学技術振興財団

FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工(Slice）とSEMによる観察（View）を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な…

X線CT法

財団法人材料科学技術振興財団

試料にX線を照射することで、試料内部構造の二次元透過像を取得する分析手法です。

［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法

財団法人材料科学技術振興財団

試料表面の構造解析を行う分析手法です。

［TEM］透過電子顕微鏡法

財団法人材料科学技術振興財団

薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。

［SEM］走査電子顕微鏡法

財団法人材料科学技術振興財団

電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。

［SIMS］二次イオン質量分析法

財団法人材料科学技術振興財団

イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です。