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X線CT法

財団法人材料科学技術振興財団
最終更新日: 2025年01月21日

X-ray Computed Tomography

試料にX線を照射することで、試料内部構造の二次元透過像を取得します。また、試料を回転させた連続撮影データから、X線CT(Computed Tomography)像を構築します。

・非破壊で、試料の内部構造や欠陥形状などの確認が可能。
・3D像や任意箇所での断面像を構築可能。
・X線エネルギーは30 kV~160 kVの間で設定できるため、有機材料から電子部品まで幅広く対応可能。
・専用ステージにより、引張/圧縮や冷却/加温した状態で試料のX線CT測定が可能。

基本情報

○適用例
• リチウムイオン電池の内部構造観察、クラック・異物の調査
• 半導体パッケージ品など電子部品の形状評価、欠陥調査
• 炭素繊維強化プラスチック(CFRP)の形状・サイズ・繊維配向評価
• アルミ溶接部分のボイドや異物の有無調査
• ウレタン材中の空隙形状・サイズ評価
• カプセル剤中の顆粒形状・サイズ・充填率評価
• 化粧品内部の微細構造観察、フィラーの分散確認
• 透過像から、断面加工位置の特定など物理解析箇所の確認
• 製品の出来栄え評価

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取扱企業

財団法人材料科学技術振興財団

業種:試験・分析・測定  所在地:東京都 世田谷区喜多見 1-18-6

製品開発・品質管理を強力サポートする、受託分析サービス。 公正中立な第三者機関として、最先端の科学技術の発展に貢献します。

エレクトロニクス分野・マテリアル分野・ライフサイエンス分野などの製品・材料・素材の分析を、100種以上の分析手法を取り揃えて承っております。
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