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[XRD]X線回折法

財団法人材料科学技術振興財団
最終更新日: 2025年01月27日

XRD:X-ray Diffraction

XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。
・結晶性物質の同定が可能
・結晶子サイズの評価(数nm~100nm)が可能
・結晶化度の評価が可能
・配向性の評価が可能
・歪み量・応力の評価が可能
・非破壊で分析が可能

保有装置の特徴
・室温~1100℃までの加熱分析が可能
・ビーム径100μmまでの微小部測定が可能
・N2、He、Ar、真空での雰囲気制御が可能

基本情報

<適用例>
・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価
・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定
・high-k膜・Niシリサイド(NiSi)・Tiシリサイド(TiSi)の結晶構造解析
・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価

価格帯 詳しくはお問い合わせください。
納期 1ヶ月以内
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取扱企業

財団法人材料科学技術振興財団

業種:試験・分析・測定  所在地:東京都 世田谷区喜多見 1-18-6

製品開発・品質管理を強力サポートする、受託分析サービス。 公正中立な第三者機関として、最先端の科学技術の発展に貢献します。

エレクトロニクス分野・マテリアル分野・ライフサイエンス分野などの製品・材料・素材の分析を、100種以上の分析手法を取り揃えて承っております。
お客様の「なぜ?」「困った…」「どうなってる?」に分析データ・解析結果でお応えします。

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