セイコーフューチャークリエーション株式会社の製品一覧
FIB-SEM装置Helios5 DualBeamの導入
最新型集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM)サーモフィッシャーサイエンティフィック製Thermo Scientiffic DualBeam装置Helios 5 CXを導入…
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集束イオンビーム装置(FIB)を使った微細加工、走査型プローブ顕微鏡(AFM)他による微小部形態観察、示差走査熱量計(DSC)による材料性質の分…
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