半導体/MEMS/ディスプレイのWEBEXHIBITION（WEB展示会）による製品・サービスのマッチングサービス SEMI-NET（セミネット）

CR6300

株式会社日立ハイテク

高速ADR、高精度ADCにより、歩留まり改善に貢献するインライン対応欠陥レビューSEM

Mirelis VM1000

株式会社日立ハイテク

SiCウェーハの結晶欠陥・加工ダメージの非破壊検査を実現したミラー電子式検査装置

LSシリーズ

株式会社日立ハイテク

ウェーハ表面検査装置LSシリーズは，パターンなし（鏡面）シリコンウェーハ上に存在する微小異物や欠陥を検査する装置です。

ISシリーズ

株式会社日立ハイテク

暗視野式ウェーハ欠陥検査装置。プロセスで発生するパターンウエハ上の欠陥・異物を高感度・高速でモニタリングする事が可能です。

M-600/6000シリーズ（SEMICON Japan 2020 Virtual出展)

株式会社日立ハイテク

コンダクターエッチング装置　M-600/6000シリーズは、デジタルモバイル機器、白物家電製品、自動車、鉄道などに用いられるパワー半導体のシリコ…

CS4800

株式会社日立ハイテク

4、6、8インチのウェーハサイズに対応した測長SEM

CMXシリーズ

THK株式会社

画期的な駆動モジュール構造を採用した、超薄型の精密アライメントステージ

A/AXシリーズ

THK株式会社

高精度でバリエーションが豊富　さまざまな用途に対応可能な精密ステージ データダウンロード

サーフェイス型エアスライダステージ

株式会社モーショントラスト

超精密モデル（用途：半導体用小ストローク検査装置向け）

SA/SL Series

住友重機械工業株式会社

露光・高精度検査装置用XYステージ