不純物濃度の製品一覧
半導体製造デジタルツインモデルに向けた中間変数を利用する複数工程モデルでのケーススタディ
グローバルネット株式会社
豊田中研、岡地 涼輔
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実験室系HAXPES を用いた電圧印加オペランド測定の
MOS 構造における不純物濃度依存性の解析
グローバルネット株式会社
明治大理工、箕輪 卓哉
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GeSiSn/GeSn 二重障壁構造で観測した負性微分抵抗と動作特性解析
グローバルネット株式会社
名大、柴山 茂久
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pnトンネルダイオードのための共ドープ超薄膜SOI 絶縁体層の解析
グローバルネット株式会社
静岡大、増井 駿
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