自治体・省庁・研究機関・団体の製品一覧
Gate-all-around FET 用TiAlC/TiN 電極の実効仕事関数へのF 混入の影響
グローバルネット株式会社
産総研 先端半導体研究センター、間部 謙三
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ハイブリッド接合への応用に向けたSiCN 膜の接合メカニズム解明
グローバルネット株式会社
横浜国大、山本 泰輔
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顕微ラマン分光法によるTSV 周辺Si 歪の横方向分布評価
グローバルネット株式会社
明治大理工、藤森 涼太
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UV/Dry Air 処理による半導体基板上フッ素系ポリマー膜の除去
グローバルネット株式会社
熊大院自、小石 航平
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Towards accurate CMP simulations: Bridging experimental data and numerical models for 6-in SiC wafers
グローバルネット株式会社
Aixtal Corporation(https://aixtal.com/)、Roberto Iaconi
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SADP 互換EB-R プロセスによるゲートパターン作製
グローバルネット株式会社
AIST SFRC、尹 成圓
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無電解めっきによるCoMn 拡散バリア膜形成の検討
グローバルネット株式会社
関西大システム理工、新宮原 正三
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フラッシュランプアニールによるエピタキシャルSi:P 層の再活性化
グローバルネット株式会社
株式会社SCREEN セミコンダクターソリューションズ、植野 雄守
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ヨウ化銅(I)を原料とするCVD 法によるビアホールの選択埋め込み
グローバルネット株式会社
茨城大工、難波 拓?
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量子補正モンテカルロシミュレーションによるInAsSb HEMT の特性予測
グローバルネット株式会社
東理大先進工、児玉 直也
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