光電子分光法の製品一覧

実験室系HAXPES を用いた電圧印加オペランド測定の MOS 構造における不純物濃度依存性の解析
グローバルネット株式会社

注目

明治大理工、箕輪 卓哉

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[XPS]X線光電子分光法

財団法人材料科学技術振興財団

X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関す…

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[UPS]紫外光電子分光法

財団法人材料科学技術振興財団

紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。

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[HAXPES]硬X線光電子分光法

財団法人材料科学技術振興財団

XPS(X線光電子分光)の励起光に硬X線を用いた分析手法で、ダメージレスな界面の結合状態評価を行うことができます。

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