半導体/MEMS/ディスプレイのWEBEXHIBITION（WEB展示会）による製品・サービスのマッチングサービス SEMI-NET（セミネット）

［UPS］紫外光電子分光法

財団法人材料科学技術振興財団

紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面（数nm程度以下）の価電子状態に関する知見を得る手法です。

［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法

財団法人材料科学技術振興財団

分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や定性分析を行う手法です。

［ED］電子回折法

財団法人材料科学技術振興財団

電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。

［TEM ED-Map］TEM電子回折マッピング法

財団法人材料科学技術振興財団

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

［EPMA］電子プローブマイクロアナライザー

財団法人材料科学技術振興財団

真空中で細く絞られた電子線を固体試料表面に照射し、発生する特性X線を分析することで、元素の同定や定量値に関する知見を得る手法です。

［HAXPES］硬X線光電子分光法

財団法人材料科学技術振興財団

XPS（X線光電子分光）の励起光に硬X線を用いた分析手法で、ダメージレスな界面の結合状態評価を行うことができます。

［XRF］蛍光X線分析法

財団法人材料科学技術振興財団

照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。

［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法

財団法人材料科学技術振興財団

電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。

［EBSD］電子後方散乱回折法

財団法人材料科学技術振興財団

結晶性試料の方位解析ができる手法です。

有機ふっ素化合物（PFOS・PFOA等）の分析

財団法人材料科学技術振興財団

製品中・排水・環境水の分析に対応可能です