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[XRF]蛍光X線分析法

財団法人材料科学技術振興財団
最終更新日: 2025年02月11日

照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。

・測定範囲の全エネルギー(Na~U)が同時に短時間で測定可能
・特殊な試料を除き、前処理不要、大気中での分析が手軽に行える
・未知試料の分析に適している
・非破壊分析

基本情報

<適用例>
・金属材料の組成評価
・セラミックスの元素分布の可視化
・樹脂中の異物の元素分析
・透過X線像の取得
・部品のめっき膜厚の測定
・ウェハ上金属膜の膜厚分布評価
・残渣の成分特定
・液体の元素分析
・SUS材料の型番調査

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取扱企業

財団法人材料科学技術振興財団

業種:試験・分析・測定  所在地:東京都 世田谷区喜多見 1-18-6

製品開発・品質管理を強力サポートする、受託分析サービス。 公正中立な第三者機関として、最先端の科学技術の発展に貢献します。

エレクトロニクス分野・マテリアル分野・ライフサイエンス分野などの製品・材料・素材の分析を、100種以上の分析手法を取り揃えて承っております。
お客様の「なぜ?」「困った…」「どうなってる?」に分析データ・解析結果でお応えします。

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