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[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

財団法人材料科学技術振興財団
最終更新日: 2025年02月10日

電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。

TEMに付属している元素分析装置(EDX)と比較して、下記の特徴があります。

・EDXに比べて軽元素の感度が良い
・EDXに比べてエネルギー分解能が高い
・EDXに比べて空間分解能が高く、周辺情報を検出し難い
・元素によっては化学状態分析が可能

基本情報

<適用例>
■微小領域(0.2nm~1μm)の組成分析・面分析
・定性分析-軽元素、遷移元素の評価
・元素の化学状態評価-カーボンの結晶質/非晶質-相転移、化合物の結合状態評価
・ドーパント偏析調査
・Li元素分布評価
・TiN組成評価

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取扱企業

財団法人材料科学技術振興財団

業種:試験・分析・測定  所在地:東京都 世田谷区喜多見 1-18-6

製品開発・品質管理を強力サポートする、受託分析サービス。 公正中立な第三者機関として、最先端の科学技術の発展に貢献します。

エレクトロニクス分野・マテリアル分野・ライフサイエンス分野などの製品・材料・素材の分析を、100種以上の分析手法を取り揃えて承っております。
お客様の「なぜ?」「困った…」「どうなってる?」に分析データ・解析結果でお応えします。

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