半導体の製品一覧
拡張伝送線モデル(TLM)法を⽤いた熱電半導体の接触抵抗の精密測定
グローバルネット株式会社
京都工芸繊維大、桂 章皓
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GaN 自立基板上に作製したmist-Al2O3/n-GaN 構造の評価
グローバルネット株式会社
熊本大、谷田部 然治
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Improved quality and interface of Al2O3 towards quiet Ge-based spin qubit environment
グローバルネット株式会社
東工大、Chutian Wen
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[第15回シリコンテクノロジー分科会研究奨励賞受賞記念講演] Si0.1Ge0.9における室温スピン伝導の歪み効果
グローバルネット株式会社
阪大、内藤 貴大
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[第15回シリコンテクノロジー分科会論文賞受賞記念講演] ウエハ接合を用いた3D 集積と今後の展望
グローバルネット株式会社
東京エレクトロン、永野 風矢
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光学干渉非接触温度測定法(OICT)を用いた有機層/半導体界面の過渡熱伝導の測定
グローバルネット株式会社
広大、Yu Jiawen
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パワー半導体、歴史、発展、将来展望
グローバルネット株式会社
富士電機、藤平 龍彦
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光電気化学エッチングを施したp-GaN MOS 界面の特性に対する界面形成プロセスの影響
グローバルネット株式会社
北大、焦 一寧
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二次元電子ガスを有さない薄層AlGaN/GaNヘテロ構造へのオーミック接触に対する多端子ホール測定
グローバルネット株式会社
アドバンテスト研究所、瓜生 和也
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多端子C–V 法を用いたAlSiO/AlN/p 型GaN-MOSFET の禁制帯中準位の評価
グローバルネット株式会社
豊田中研、成田 哲生
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グローバルネット株式会社（GNC）は出版やセミナーを通して、半導体やフラットパネルディスプレイの情報をタイムリーに提供することを目的に1990…
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