信頼性の製品一覧
低温ハイブリッド接合応用に向けたSiCN 膜の界面特性解析
グローバルネット株式会社
横浜国大、佐藤 亮輔
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GaN-HEMT の過電圧印加時破壊過程のデバイス依存
グローバルネット株式会社
九大、齋藤 渉
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EID AlGaN/GaN MOS-HEMT のゲート電極直下の電子状態解析
グローバルネット株式会社
三菱電機、南條 拓真
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低コスト化と高放熱性に向けたGaN on-diamond HEMTs 構造の作製
グローバルネット株式会社
大阪公立大、富山 葉月
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The Study of Electrical Characteristics of GaN MIS-HEMT at Cryogenic Temperature
グローバルネット株式会社
国際半導体技術大学
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世界半導体製造装置・試験／検査装置市場年鑑2020
グローバルネット株式会社
この1冊で世界の半導体製造装置、試験／検査装置の世界市場がわかる！
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