半導体/MEMS/ディスプレイのWEBEXHIBITION（WEB展示会）による製品・サービスのマッチングサービス SEMI-NET（セミネット）

無電解めっきによるCoMn 拡散バリア膜形成の検討
グローバルネット株式会社

実験室系HAXPES を用いた電圧印加オペランド測定の MOS 構造における不純物濃度依存性の解析
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拡張伝送線モデル(TLM)法を⽤いた熱電半導体の接触抵抗の精密測定
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GaN 自立基板上に作製したmist-Al2O3/n-GaN 構造の評価
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新電解技術による層間絶縁膜上へのRu 結晶核の形成
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300～600 ℃の低温処理用ミニマルレーザ加熱装置の開発(Ⅲ)
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Improved quality and interface of Al2O3 towards quiet Ge-based spin qubit environment
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MEMS デバイス適用へ向けた極厚膜低ストレスLPCVD Poly-Si 膜の膜厚方向の電気抵抗評価
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通電劣化を抑制したダブルインプラSiC スーパージャンクションUMOSFET
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[第15回シリコンテクノロジー分科会研究奨励賞受賞記念講演]　Si0.1Ge0.9における室温スピン伝導の歪み効果
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