生産性を高めたいの製品一覧

【請負】半導体プロセスエンジニアリングサービス
アットフィールズテクノロジー株式会社

注目

経験豊富な半導体プロセス技術者をお客様の課題に応じてタイムリーにチーム化し、お客様課題解決に向けた現場サービスを提供します。 20年以上…

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超小型スピンコーター【SC-155G】

株式会社イーエッチシー

グローブボックスのパスボックスも通せるミニサイズのスピンコーター

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[C-SAM]超音波顕微鏡法

財団法人材料科学技術振興財団

試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。

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[UV-Vis]紫外可視分光法

財団法人材料科学技術振興財団

波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の強度を測定することで、試料の吸光度や透過率を求める手法です。

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[XRD]X線回折法

財団法人材料科学技術振興財団

回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

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[Slice&View]三次元SEM観察法

財団法人材料科学技術振興財団

FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工(Slice)とSEMによる観察(View)を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な…

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X線CT法

財団法人材料科学技術振興財団

試料にX線を照射することで、試料内部構造の二次元透過像を取得する分析手法です。

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[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

財団法人材料科学技術振興財団

試料表面の構造解析を行う分析手法です。

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[SEM]走査電子顕微鏡法

財団法人材料科学技術振興財団

電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。

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[SIMS]二次イオン質量分析法

財団法人材料科学技術振興財団

イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です。

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