検査装置の製品一覧

半導体の材料、製造プロセス品質、プロセス処理の成果を検査、測定、評価する装置

VM-1200/1300

株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ

製造ラインへの導入も可能な卓上型光干渉式膜厚測定装置

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VM-1020

株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ

R&Dに最適な顕微鏡モデル光干渉式膜厚測定装置

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ZI-3500

株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ

loT向け電子デバイスに対応したパターン付きウェーハ外観検査装置

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ZI-2000

株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ

ハイスピード、ハイコストパフォーマンスを追求。パターン付きウェーハ外観検査装置

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CENTRIS SYM3エッチング装置

Applied Materials,Inc

1x/10nmノード以降の大量生産用の重要なエッチングアプリケーションにおいて、世界トップクラスのウェーハ間の均一性を前例のないチップ内図形制…

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