検査装置の製品一覧

半導体の材料、製造プロセス品質、プロセス処理の成果を検査、測定、評価する装置

ULDiSシリーズ

株式会社アルバック

光学膜用スパッタリング装置 ULDiSシリーズは、メタモードの技術を進化させたデジタルスパッタ装置で、より高品位の光学膜を実現します。米国JDS…

詳細を確認する

TANDUO(SEMICON Japan 2020 Virtual出展)

Kokusai Electric株式会社

プロセスに応じたモジュール選択により、キュア、アニール、デガス等に合わせた最適なシステムを提供する事ができます。

詳細を確認する

MARORA

Kokusai Electric株式会社

次世代DRAM、ロジックのゲート絶縁膜形成、フラッシュメモリの絶縁膜形成に最適な枚葉プラズマ窒化・酸化装置

詳細を確認する

レーザー干渉計 Qualifire™

アメテック株式会社

最新型レーザー干渉計 QUALIFIREは複数の機能強化を実現しながら装置の軽量化も同時に実現した最新型のZYGOのレーザー干渉計です。

詳細を確認する

DI4600

株式会社日立ハイテク

高性能暗視野式ウェーハ欠陥検査装置

詳細を確認する

VeritySEM 10

Applied Materials,Inc

高NA EUVリソグラフィへの道を開く 新しい電子ビーム計測装置

詳細を確認する

ウエハ全面高速膜厚測定システム

株式会社ヒューテック

ウエハ全面の膜厚を高速測定可能な膜厚測定システム。秒間40,000ポイントをIn-Situ測定することで成膜条件や装置の異常を素早くフィードバック。

詳細を確認する

SCSI-SD 外付けドライブBOX

株式会社渡辺商行

SCSI仕様の古いワークステーション(mini-com)で使用しているDAT・FDD・MO・HDDに代わるバックアップディスク装置。 既に製造終了の旧式ハードウ…

詳細を確認する

ナノ表面粗さ・形状計測器「ナノセブン」

ツクモ工学株式会社

サブナノメートルレベルの表面粗さをより簡単に、より早く測定します

詳細を確認する
全 45 件中 1 ~ 10 件を表示中
表示件数: