検査装置の製品一覧
VM-2500/3500
株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
国内No.1の販売実績を誇る多機能光干渉式膜厚測定装置
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ウェーハ外観検査装置INSPECTRAシリーズ
東レエンジニアリング先端半導体MIテクノロジー株式会社
半導体製造の前工程から後工程まで『ハイスピード』『ハイスペック』でウェーハの全数自動検査の要求にお応えします。
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RE-3500
株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
loT向け電子デバイスに対応したエリプソ式膜厚測定装置
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VM-1200/1300
株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
製造ラインへの導入も可能な卓上型光干渉式膜厚測定装置
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VM-1020
株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
R&Dに最適な顕微鏡モデル光干渉式膜厚測定装置
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ZI-3500
株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
loT向け電子デバイスに対応したパターン付きウェーハ外観検査装置
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ZI-2000
株式会社SCREENセミコンダクターソリューションズ
ハイスピード、ハイコストパフォーマンスを追求。パターン付きウェーハ外観検査装置
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当社のバリューである半導体検査技術を生かし、光学式半導体ウェーハ検査装置“インスペクトラ”と電子線式半導体ウェーハパターン検査装置“NGR”の…
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SCREENセミコンダクターソリューションズは、 エッチング、フォトリソグラフィ、画像処理を技術のコアとし、半導体洗浄プロセスにおいて世界の…
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当社は、株式会社日立国際電気から独立して、新たにKKRファンドのもとで半導体製造装置事業の専門メーカーとして2018年6月1日より「株式会社KO…
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