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DI4600

株式会社日立ハイテク
最終更新日: 2023年12月08日

高性能暗視野式ウェーハ欠陥検査装置

DI4600では、シートビームによるウェーハ全面の高速検査技術、空間フィルタによるパターン及び欠陥からの散乱光を高精度に分離する技術に加え、独自光学系技術により高速かつ高い欠陥検出性能を実現しています。
DI4600は欠陥検出力の向上と更なる高スループット化を両立したことで、最先端メモリー半導体並びにロジック半導体製造におけるインライン欠陥管理ツールとして採用されています。

基本情報

・量産運用に適した高いスループットと検出感度の両立
・暗視野式検査装置の特徴を活かした半導体製造ラインの状態管理が可能
高い装置間マッチング性能
・複数台の運用に適した独自技術の光学系を採用
簡便な操作性
・シンプルなパラメータ設定によるレシピ作成

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取扱企業

株式会社日立ハイテク

業種:繊維  所在地:東京都 港区虎ノ門虎ノ門ヒルズビジネスタワー9階 1-17-1 虎ノ門ヒルズビジネスタワー9階

「見る・測る・分析する」技術で産業界に貢献

同社は「見る・測る・分析する」というコア技術をその時々の最先端分野の課題を解決できるレベルにまで引き上げ、半導体産業に貢献してきた。現在は独自のプラズマ技術を応用したエッチング装置、微細パターンの検査に利用されるEB測長装置で世界的な実績を残している。

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