半導体/MEMS/ディスプレイのWEBEXHIBITION（WEB展示会）による製品・サービスのマッチングサービス SEMI-NET（セミネット）

マスク欠陥検査装置市場の規模、シェア、予測（2025～2035年）

KD Market Insights Private Limited

KD Market Insightsは、「マスク欠陥検査装置市場の将来動向および機会分析（2025～2035年）」と題した市場調査レポートの発行を発表いたします…

半導体欠陥レビューシステムの市場規模、シェア、成長、メーカー 2033年

KD Market Insights Private Limited

KD Market Insightsは、市場調査レポート「半導体欠陥レビューシステム市場の将来動向と機会分析 - 2024年から2033年」を出版しました。当レポー…

［C-SAM］超音波顕微鏡法

財団法人材料科学技術振興財団

試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。

［OBIRCH］光ビーム加熱抵抗変動法

財団法人材料科学技術振興財団

光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です。

ディスプレイのMTF測定システム（空間分解能評価）DT-8031

アフロディ株式会社

人が視認する画像の鮮明レベルを定量化できます。

マクロウェーハ欠陥検査の市場規模、シェア、成長、メーカー 2033年

KD Market Insights Private Limited

マクロウェーハ欠陥検査の世界市場規模は、2033年までに29億米ドルに達し、年平均成長率9.3％で成長すると予測されている。

レーザー干渉計　Qualifire™

アメテック株式会社

最新型レーザー干渉計 QUALIFIREは複数の機能強化を実現しながら装置の軽量化も同時に実現した最新型のZYGOのレーザー干渉計です。

NPI-8000

株式会社ニューフレアテクノロジー

最先端マスク検査装置

DI4600

株式会社日立ハイテク

高性能暗視野式ウェーハ欠陥検査装置

DI2800

株式会社日立ハイテク

2022年発売。検出時間40枚/時間と高速検査が可能