半導体/MEMS/ディスプレイのWEBEXHIBITION（WEB展示会）による製品・サービスのマッチングサービス SEMI-NET（セミネット）

SiC MOSFET におけるAC-BTI の窒化時間依存性
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酸化抑制プロセスによる高濃度ボディ層を有するSiC(0001)
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ヘリウムイオン顕微鏡技術による極薄シリコンナノシートへの直接ナノ加工
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光電気化学エッチングを施したp-GaN MOS 界面の特性に対する界面形成プロセスの影響
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Mg イオン打ち込みしたGaN に対する850℃アニールの表面およびバルク欠陥への影響についてのMOS 構造を用いた評価(2)
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ホモエピタキシャル成長n 型GaN において電子線照射によりEC − 1 eV 付近に形成される窒素変位関連トラップの熱アニール挙動
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多結晶Ge 系IV 族半導体薄膜の電気的特性制御
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HVPE 基板およびOVPE 基板上GaN エピ層の特性評価
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高温熱処理がn-GaN ショットキーバリアダイオードの電流-電圧特性に与える影響
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ホモエピタキシャル成長n 型GaN 中の格子間窒素が形成する2 つの準位の特定
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