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酸化抑制プロセスによる高濃度ボディ層を有するSiC(0001)

グローバルネット株式会社
最終更新日: 2024年09月24日

京大、立木 馨大

シリコンカーバイド

基本情報

 SiC MOSFETの性能向上にはSiC/SiO2界面準位の低減が重要である。本研究では、水素処理、SiO2の堆積、窒化処理の3ステップが移動度向上に効果的であることを示した。特にアクセプタ密度が高いSiC MOSFETにおいて、この酸化抑制プロセスを適用することで、移動度が2倍以上向上した。さらにアクセプタ密度が1×1017〜3×1017 cm-3の範囲では、H2-CVD-NO素子がOx-NO素子と比較して約1.5倍の移動度を示し、1×1018 cm-3以上の高いアクセプタ密度では6倍以上の移動度向上が見られた。この高い移動度は、界面欠陥やラフネスによる電子の捕獲・散乱を抑制することで得られると考えられ、特に無極性面の高ドープH2-CVD-NO素子で顕著であった。この結果は、SiC MOSFETの設計において、界面準位の管理がいかに重要かを示している。

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1994年にCMPプラナリゼーション委員会の事務局として活動する機会を経て、会員の皆様にCMP向け層間絶縁膜用テストウエハの提供を始めたことがきっかけとなり、テストウエハの試作・加工ファンドリビジネスに参入、事業化を致しました。

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