抵抗の製品一覧
300～600 ℃の低温処理用ミニマルレーザ加熱装置の開発(Ⅲ)
グローバルネット株式会社
ミニマルファブ推進機構、佐藤 和重
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MEMS デバイス適用へ向けた極厚膜低ストレスLPCVD Poly-Si 膜の膜厚方向の電気抵抗評価
グローバルネット株式会社
株式会社KOKUSAI ELECTRIC、鋪田 嚴
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通電劣化を抑制したダブルインプラSiC スーパージャンクションUMOSFET
グローバルネット株式会社
産総研、竹中 研介
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[第15回シリコンテクノロジー分科会研究奨励賞受賞記念講演] Si0.1Ge0.9における室温スピン伝導の歪み効果
グローバルネット株式会社
阪大、内藤 貴大
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光学干渉非接触温度測定法(OICT)を用いた有機層/半導体界面の過渡熱伝導の測定
グローバルネット株式会社
広大、Yu Jiawen
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GaN-HEMT の過電圧印加時破壊過程のデバイス依存
グローバルネット株式会社
九大、齋藤 渉
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二次元電子ガスを有さない薄層AlGaN/GaNヘテロ構造へのオーミック接触に対する多端子ホール測定
グローバルネット株式会社
アドバンテスト研究所、瓜生 和也
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100 GHz 帯1 W級GaN パワーアンプMMIC の開発
グローバルネット株式会社
富士通、熊崎 祐介
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酸素イオン注入n 型GaN で観測される実効ドナー密度変動と長い捕獲時定数を持つトラップの関係性
グローバルネット株式会社
名大、林 慶祐 堀田 昌宏(本件に関わる問合せ先)
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GeSiSn/GeSn 二重障壁構造で観測した負性微分抵抗と動作特性解析
グローバルネット株式会社
名大、柴山 茂久
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