半導体用語集
パーピンテスタ パーピンリソーステスタ
英語表記：per-pin tester per-pin resource tester
テスト条件をピンごとに設定できるアーキテクチャを持つ自動検査装置。これに対して、テスト条件がピン共通に設定されるアーキテクチャの自動検査装置をシェアードリソーステスタに比べて、テスト条件の設定において自由度が高いため、高度化する論理ICや、高タイミング精度を要求されるデバイスの検査に適する。
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