半導体用語集
破断モード
英語表記：shearing mode failure mode neck breaking second bond off
ボンディングワイヤ引っ張り強度試験における破断部の様相。第1ボンドのはがれをAモード、ループ立ち上がり部での破断をBモード、ループ途中はCモード、第2ボンドネック部はD モード、第2ボンドのはがれをEモードという。Bモードのことをネック切れ、Eモードのことをリードはがれともいう。
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