半導体用語集
過剰消去禁止機能 過剰書き込み禁止機能
英語表記：over-erase prohibit function over-programming prohibit function
フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを同時測定する際に、消去テストがパスしたDUTに対し消去パルスの印加を禁止し、消去が完了していないDUTにのみ消去パルスを印加する機能を過剰消去禁止機能という。又、書き込みパルスの印加を禁止する機能を過剰書き込み禁止機能という。
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