半導体用語集
ウェーハテスト ウェーハソート プローブテスト EDSテスト
英語表記：wafer test wafer sort probe test electrical die sot test
ウェーハチップのボンディングパッド上にプローブ針等を当ててダイの電気的試験を行うこと。この測定結果によって、ダイの良品、不良品の選別を行う。又、そのデータをウェーハ製造工程にフィードバックすることにより、生産における歩留りと信頼性の向上に役立てる。
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