半導体用語集
ウェーハプローバ プローバ
英語表記：wafer prober
IC、LSI等が形成されたウェーハ上のダイの電気的特性を試験するために、各ダイのパッドにプローブカードのニードル等を順次自動的に接触させる装置。接続された外部のテストシステムにより各ダイの電気的試験を可能とするとともに、不良と判断されたダイをインカ等で識別可能とする装置。
関連製品
「ウェーハプローバ プローバ」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「ウェーハプローバ プローバ」に関連する用語が存在しません。
「ウェーハプローバ プローバ」に関連する特集が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。
