半導体用語集
ウェーハレベルバーンイン装置 WLBI装置 ウェーハバーンイン装置
英語表記：wafer level burn-in system wafer burn-in system
ウェーハ状態でバーンインを行う装置。DCテストの他、BISTを持つDUTでは、それを利用したファンクションテストを行う機能を持つ場合が有る。1枚のウェーハを同時に試験する一括方式と、部分的に試験する分割方式が有る。
関連製品
「ウェーハレベルバーンイン装置 WLBI装置 ウェーハバーンイン装置」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「ウェーハレベルバーンイン装置 WLBI装置 ウェーハバーンイン装置」に関連する用語が存在しません。
「ウェーハレベルバーンイン装置 WLBI装置 ウェーハバーンイン装置」に関連する特集が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。
