半導体用語集
スキャンデザイン デバイス測定機能
英語表記：test function of scan designed devices
順序回路と組合せ回路から成るロジックデバイスのテスト容易化手法であるスキャンパス方式を持ったデバイスを持ったデバイスを測定する機能。
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