半導体用語集
スキャンパステスト
英語表記：scan pass
被測定デバイス内の論理回路の全てのフリップフロップをシリーズに接続し、シフトレジスタとして動作させることで、等価的に組合わせ回路にしてテストを簡易化するテスト簡易化手法。
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