半導体用語集
ダブルスキャン デュアルスキャン
英語表記：dual scan
バーンインボード上にある多数の被測定デバイスの中から、試験するデバイスを選択する方法。X方向とY方向から2次元的に走査する方式をいう。これに対し一方向のみで走査する場合をシングルスキャンという。
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