半導体用語集

テストスペック

英語表記:test specification

被測定デバイスの良、不良を判定するためのテスト条件及びリミット値のこと。テストペックは被測定デバイスの品種やテスト項目によっても異なるが、各ピンに対する電圧値、電流値、パターン、タイミングなどがあり、テスト項目毎に規定される。


関連製品

「テストスペック」に関連する製品が存在しません。

関連用語

関連特集

「テストスペック」に関連する用語が存在しません。




「テストスペック」に関連する特集が存在しません。




会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。