半導体用語集
データトポロジ機能 データスクランブル機能
英語表記：data topological fanction
記憶保持電荷の正、負がセル毎に異なっているメモリデバイスの記憶動作を試験する際、その物理セルの内容に従って論理テストデータの正、負を自動的に反転しながら試験する機能。
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