半導体用語集
フラッシュメモリ E／W サイクル試験装置
英語表記：flash memory E/W cycle test system
フラッシュメモリのerace（消去）/write（書込）サイクルの寿命評価を行う装置。複数個のフラッシュメモリを同時に評価できることを特徴とする。
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