半導体用語集
ロジックテストシステム ロジックテスタ
英語表記：logic test system logic tester
ASIC、マイクロプロセッサ、論理回路など、ランダムロジックデバイスのテストを目的とした自動検査装置。特徴として、大容量の「パターンメモリ」といったユニットを持つ。大規模高速化するASICをテストする場合、テストパターンを生成するCAD環境とテスタのスムーズなリンクが重要である。
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