半導体用語集

複数ステーション同期試験

英語表記:multi-station synchronous probe test

2台以上のテストヘッドを有するテストシステムでウェーハ同時測定を行う場合に、常に各ウェーハの同一ロケーションのチップを同時に試験すること。


関連製品

「複数ステーション同期試験」に関連する製品が存在しません。

関連用語

関連特集

「複数ステーション同期試験」に関連する用語が存在しません。




「複数ステーション同期試験」に関連する特集が存在しません。




会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。