半導体用語集
透過型電子顕微鏡 TEM
英語表記：transmission electron microscope
一次熱電子または電界電子による回折、あるいは透過拡大像を記録する電子顕微鏡。
関連製品
「透過型電子顕微鏡 TEM」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「透過型電子顕微鏡 TEM」に関連する用語が存在しません。
「透過型電子顕微鏡 TEM」に関連する特集が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。
