半導体用語集
IDDQ試験 静止電源電流試験
英語表記：IDDQ test quiescent power supply current test
CMOSデバイスの試験において、デバイスにテストパターンを印加し、各サイクル毎の静止電源電流を測定することにより不良検出を行う試験方法。
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