半導体用語集
IDDQ試験 静止電源電流試験
英語表記：IDDQ testquiescent power supply current test
CMOSデバイスの試験において、デバイスにテストパターンを印加し、各サイクル毎の静止電源電流を測定することにより不良検出を行う試験方法。
関連製品
「IDDQ試験 静止電源電流試験」に関連する製品が存在しません。キーワード検索
フリーワードやカテゴリーを指定して検索できます
関連用語
関連特集
「IDDQ試験 静止電源電流試験」に関連する用語が存在しません。
「IDDQ試験 静止電源電流試験」に関連する特集が存在しません。
会員登録すると会員限定の特集コンテンツにもアクセスできます。
